Специалистами ОКБ «АСТРОН» (г. Лыткарино) и ТЦ «Инженер» (г. Чехов) создан первый в России образец гиперспектральной камеры*. Предложенная оптическая схема гиперспектральной камеры реализует диффракционный предел разрешения в пределах щели, согласованной с фотоприемной областью матрицы. Для апохроматической коррекции разработчиками предложены оптические материалы с разным ходом дисперсии, в частности, жидкие оптические среды с «особым» ходом дисперсии (ОЖС). Применение ОЖС в объективах позволяет получить апохроматическую аберрационную коррекцию в 1,5–2 раза большем спектральном диапазоне по сравнению со стеклянными аналогами. Для использования в составе гиперспектральной камеры используется матрица ПЗС Sony ICX445AL. Матрица имеет рабочий спектральный диапазон 0,4 -1 мкм, формат 1280 х 960 активных элементов, расположенных с шагом 3,7 мкм. Размер диагонали фотоприемной зоны 6 мм. Максимальная частота кадров матрицы составляет 22 Гц, возможны режимы с частотой до 30 Гц. Объектив камеры обеспечивает качество изображения на уровне дифракционного предела в диапазоне 0,4 - 1 мкм. Объектив реализован в виде двух групп, из трех линз каждая. Первая и третья линза в каждой группе работают оболочкой, формирующей линзу из оптической жидкости в промежутке между ними. Фокусное расстояние объектива f’=70 мм.

Таким образом, впервые в отечественной практике создана малогабаритная легкая гиперспектральная камера с рабочим спектральным диапазоном 0,4-1 мкм, которую можно использовать для дистанционного зондирования Земли с установкой на дронах.

*Гиперспектральными называются измерения в диапазоне от нескольких сотен до тысячи спектральных каналов, а гиперспектрометром - прибор, осуществляющий одновременно измерение спектральной и пространственных координат. Гиперспектральная аппаратура предназначена для проведения измерений в широком оптическом диапазоне спектра и получения, как изображения, так и спектральных характеристик исследуемой поверхности. Только гиперспектральные измерения могут выявить, например, малые спектральные различия между отдельными элементами поверхности Земли и служить индикатором интересующих нас объектов и процессов на поверхности планеты.